Skillnad mellan AFM och STM

AFM vs STM

AFM refererar till Atomic Force Microscope och STM refererar till Scanning Tunneling Microscope. Utvecklingen av dessa två mikroskop anses vara en revolution i atom- och molekylärfälten.

När man pratar om AFM, tar den exakta bilder genom att flytta en nanometerstorlek över bildens yta. STM fångar bilder med hjälp av kvanttunnelning.

Av de två mikroskopen var Scanning Tunneling Microscope den första som skulle utvecklas.

Till skillnad från STM gör sonden en direkt kontakt med ytan eller beräknar den begynnande kemiska bindningen i AFM. STM-bilder indirekt genom att beräkna kvanttunnel tunneln mellan han sond och prov.

En annan skillnad som kan ses är att spetsen i AFM rör ytan försiktigt rör ytan medan i STM hålls spetsen på kort avstånd från ytan.

Till skillnad från STM, mäter AFM inte tunnelströmmen utan mäter endast den lilla kraften mellan ytan och spetsen.

Det har också sett att AFM-upplösningen är bättre än STM. Det är därför AFM används i stor utsträckning inom nanoteknologi. När man talar om beroende av kraft och avstånd är AFM mer komplex än STM.

När Scanning Tunneling Microscope är vanligt tillämpligt på ledare, är Atomic Force Microscope tillämpligt på både ledare och isolatorer. AFM passar bra med vätske- och gasmiljöer, medan STM endast arbetar i högvakuum.

Jämfört med STM, ger AFM en mer topografisk kontrast, direkt höjdmätning och bättre ytfunktioner.

Sammanfattning

1. AFM fångar exakta bilder genom att flytta en nanometerstorlek över bildens yta. STM fångar bilder med hjälp av kvanttunnelning.

2. Sonden gör en direkt kontakt med ytan eller beräknar den begynnande kemiska bindningen i AFM. STM-bilder indirekt genom att beräkna kvanttunnel tunneln mellan han sond och prov.

3. Spetsen i AFM rör ytan berör försiktigt ytan medan i STM hålls spetsen på kort avstånd från ytan.

4. AFM-upplösning är bättre än STM. Det är därför AFM används i stor utsträckning inom nanoteknologi.

5. När Scanning Tunneling Microscope är normalt tillämpligt på ledare, är Atomic Force Microscope tillämpligt på både ledare och isolatorer.

6. AFM passar bra med vätske- och gasmiljöer, medan STM endast arbetar i högvakuum.

7. Av de två mikroskopen var Scanning Tunneling Microscope den första som skulle utvecklas.